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德國Belec高精度便攜式直讀光譜儀de-tect
詳細(xì)信息| 詢價留言品牌：德國Belec 型號：de-tect 加工定制：否 光源：自選 波長范圍：自選 nm 焦距：自選 mm 外形尺寸：自選 mm 重量：自選 g 適用范圍：自選 德國Belec貝萊克高精度便攜式直讀光譜儀
專門生產(chǎn)光發(fā)射直讀光譜儀，主要采用高穩(wěn)定性、準(zhǔn)確性及重復(fù)性的“光電倍增管”檢測系統(tǒng)，光學(xué)系統(tǒng)為帕邢-龍格裝置雙光譜室，羅蘭圓直徑300-500mm，可選用波長由120-800nm，光柵為3600線/毫米，火花室采用低損耗烏電極，在同一系統(tǒng)上*多可升級到11個基體及108個通道，可檢測的金屬基體包括鋼鐵、鑄鐵、工具鋼、銅、鋁、鎳、鈦、鉆等。按照特殊的多基體應(yīng)用，可提供CCD感光系統(tǒng)的高性價比光譜儀。
Belec de-tect 高精度便攜式直讀光譜儀
·重量僅12kg，可以攜帶到任何地方，較長的線纜設(shè)計，能夠提供任何長度 (標(biāo)準(zhǔn)3m，可選10m或以上長度) 易于應(yīng)用并可與管道架連接
·低氳氣消耗量，降低使用成本
·堅固的槍頭設(shè)計，含光學(xué)組件，在槍頭上進(jìn)行所有分析，無需顧慮因光纖老化而導(dǎo)致光強(qiáng)降低的問題。槍頭連屏幕，更便捷讀取分析數(shù)據(jù)
·便于使用的用戶界面
·集成、可定制牌號數(shù)據(jù)庫
·高準(zhǔn)確度和高精確度 (包括UV元素、C、P、S甚至微量元素)
·恒溫及堅固外殼設(shè)計適應(yīng)于任何現(xiàn)場環(huán)境
·適用于幾乎所有形狀和尺寸的適配器
·幾乎免維護(hù)操作
Belec Compact Port HLC 便攜式直讀光譜儀
·100%光電倍增管系統(tǒng)便攜式光譜儀主機(jī)
·體積小、重量輕，僅17公斤
·可選3種不同火花探頭
·可外接火花測量臺
·*多分析6個基體可達(dá)36個元素信道，包括C、P、S、N等元素
·分析時間僅13秒左右
·觸摸式顯示屏，便于現(xiàn)場使用
·全天候設(shè)計帶恒溫系統(tǒng)，抗干擾能力強(qiáng)
·低損耗及免維護(hù)的火花鎢電極，日常維護(hù)及備件成本低
·采用光柵精度為3600線/mm
·也可選用UV火花探頭
Belec OPTRON 經(jīng)濟(jì)型臺式光譜儀
·性價比高，占地空間小
·特別適合于少基體要求的客戶
·可分析*多3個基體共24個元素信道，包括C、P、S等元素
·分析時間僅15秒左右
·火花臺內(nèi)氳氣流的防污染設(shè)計
·低損耗及免維護(hù)的火花鎢電極，日常維護(hù)及備件成本低
·可測量從直徑0.5毫米的線材、管材等
·采用光柵精度為3600線/mm
·100%CCD系統(tǒng)
Belec IN-SPECT 高精度式光譜儀
·采用蔡司制造的3600刻線/mm高精度光柵
·火花臺內(nèi)的透鏡無需清潔 (免維護(hù))
·低損耗鎢電極 (不需要更換，也不需要重新打磨)，一個電極可用于多種基體
·高品質(zhì)CCD，能分析寬闊波長的成份含量
·成熟的CCD光譜室，對于所有基體具有穩(wěn)定的檢測結(jié)果，如：Fe、Ni、Cu、Al、Zn、Pb等
·元素數(shù)量不限
·分析程序數(shù)量不限
·可分析如Li、Na、K、N等特殊元素
·采用具有多個參考元素信道的MCDC (多矩陣通道漂移校正)能長期保持穩(wěn)定
·創(chuàng)新的曲面鏡設(shè)計，聚焦光線能覆蓋單個CCD整個表面
·雙光譜分析儀
·不需要抽真空，也不需要進(jìn)行光室的維護(hù)
Belec Vario Lab 2P/2C 落地式直讀光譜儀
·同一設(shè)備可安裝3個光譜室
·可分析*多11個基體共108個元素信道，包括C、P、S、N等元素
·可同時選擇火花臺及3種不同的火花探頭--可在非破壞條件下分析大型工件
·分析時間僅為13秒左右
·火花臺內(nèi)氳氣流的防污染設(shè)計
·低損耗及免維護(hù)的火花鎢電極，日常維護(hù)及備件成本低
·可測量從小至直徑0.5毫米的線材到不計尺寸大型工件
·可選擇帶氣體凈化器的氳氣光譜室系統(tǒng)或真空光譜室系統(tǒng)
·采用光柵精度為3600線/mm
·100% 采用光電倍增管系統(tǒng)，壽命長，穩(wěn)定性高；或可選擇CCD，性價比高
光譜儀軟件
Belec Win 21軟件 (可選多國語言，包括中文)
·可選多國語言，包括中文、英文、日文、韓文、德文、西班牙等十多種語言
·自動顯示分析結(jié)果和多次測量的平均值、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差和絕對標(biāo)準(zhǔn)偏差等，以及與預(yù)先輸入的材料數(shù)據(jù)庫進(jìn)行比較對分析結(jié)果作出評價
·在顯示分析結(jié)果的同時，可以自動顯示材料牌號
·Belec光譜儀操作十分簡單，特別適合于缺乏光譜分析經(jīng)驗的人員使用
·為滿足中國用戶的需求，Win21軟件已可選擇中文操作模式，而操作接口的顯示排列方式更可以按照用戶的要求重整，以達(dá)到方便用戶使用的*終目的
手提激發(fā)槍
氯氣UV探頭“Argon UV Probe”
可以同時分析P和S，與C元素不同，因這兩個元素發(fā)射很短的波長，不能用光纖光束傳送，需在探頭內(nèi)安裝一個細(xì)小的光譜室來解決這問題，探頭重量僅1kg，使用非常方便。
氯氣標(biāo)準(zhǔn)探頭“Argon Standard Probe”
可進(jìn)行高精度分析大部份元素，包括C碳，使用專用的光學(xué)方法可以分析低至0.003%含量C元素，其分析精度達(dá)到了專用定碳儀的分析精度。
空氣探頭“Air Probe”
“混料分選”的常規(guī)應(yīng)用，一次分析時間小于2秒。在一次分析后顯示出近似的分析結(jié)果和材料牌號，也可發(fā)出報警信號。
“5mm 孔直徑”
針對工件面積細(xì)小的平面，能提供特殊的小直徑適配器，直徑僅5mm也可與標(biāo)準(zhǔn)的11mm進(jìn)行快速替換。
適配器
適合于各種形狀零件和試樣的分析，如管材、棒材、直徑小至0.5mm的金屬絲、螺絲、金屬小珠等..
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留 言
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產(chǎn)品分類
